科研工作者或工藝開發(fā)人員如果想發(fā)現(xiàn)新的應(yīng)用，開發(fā)新材料或創(chuàng)造更高質(zhì)量的產(chǎn)品，提高產(chǎn)品性能，往往需要在極高放大倍數(shù)下，觀察材料清晰的微觀形貌。然而光學(xué)顯微鏡和傳統(tǒng)鎢燈絲掃描電鏡無法提供高分辨率的成像，這時(shí)，就需要應(yīng)用場發(fā)射掃描電鏡（FEG - SEM）。

場發(fā)射燈絲可以提供穩(wěn)定、高亮度電子束，因此納米顆粒的形貌、薄膜中的極微小的缺陷、絕緣材料或?qū)Ω吣芰侩娮邮�敏感的材料，只有通過使用場發(fā)射掃描電鏡才能得到良好的表征效果。
 

銅鉀晶體

眾所周知，落地式場發(fā)射掃描電鏡體積大，通常需要一個(gè)專門的房間以及磁場、震動(dòng)屏蔽設(shè)備，同時(shí)操作也較為復(fù)雜。因此，許多擁有落地式場發(fā)射電鏡的單位會(huì)限制設(shè)備使用，只允許受過高階培訓(xùn)的人員操作。許多研究小組、部門或公司會(huì)將場發(fā)射掃描電鏡的測試需求外包給第三方實(shí)驗(yàn)室或測試中心，以避免在 FEG-SEM 的管理和使用中出現(xiàn)問題。

現(xiàn)在，這種顧慮已經(jīng)消失了。Phenom Pharos G2 是全球唯一的臺(tái)式場發(fā)射掃描電鏡。它非常容易安裝和操作，可以使研究小組、部門或公司擁有自己的 FEG-SEM，不再依賴外部測試服務(wù)。

Phenom Pharos G2 對占地面積要求較小，只需一張承重 150kg 的桌子，不僅節(jié)省空間，同時(shí)也不需要配備其他附加設(shè)備。

光學(xué)顯微鏡具備可變焦、明暗場成像功能，在整個(gè) SEM 拍攝過程中輔助我們導(dǎo)航和定位需要觀察的特征位置。一鍵式進(jìn)入 SEM，全自動(dòng)送樣，抽真空，開高壓，自動(dòng)對焦，全程僅需 30 秒，即可快速得到高清圖像，輕松獲得所需要的放大倍數(shù)。

Phenom Pharos G2 臺(tái)式場發(fā)射掃描電鏡作為一款高效且易于使用的桌面式掃描電鏡，為各種材料提供高分辨率成像，也可以對各類電子束敏感樣品進(jìn)行成像，將研究領(lǐng)域擴(kuò)大到藥物、聚合物和有機(jī)材料等。

與其他掃描電鏡相比，場發(fā)射電鏡在低加速電壓下仍具有較好性能，無需對樣品進(jìn)行特殊處理，就可直接對絕緣材料和電子束敏感材料進(jìn)行成像，同時(shí)不會(huì)損壞樣品，不會(huì)掩蓋納米級特征。

Phenom Pharos G2 的電子束能量范圍大，利用低電壓能夠?qū)﹄娮邮�敏感的樣品成像。例如，用于水凈化的沸石，常用藥片或膠囊的藥物粉末，以及以尼龍、聚酯、氨綸和芳綸為原料的聚合物纖維。對于這些樣品，如果使用高能量的電子束進(jìn)行成像，樣品會(huì)受到明顯損傷，所以需要使用低能量電子束進(jìn)行成像。
 

沸石

聚合物纖維
 

藥物粉末

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Phenom 臺(tái)式掃描電鏡重新定義了速度、簡易性和優(yōu)異性能的完美統(tǒng)一。所有 Phenom 臺(tái)式掃描電鏡都支持選配 X 射線能譜儀（EDS），且元素分析與掃描電鏡有機(jī)結(jié)合到一起，形成統(tǒng)一、用戶友好的軟件操作界面，任何操作者都能在幾分鐘內(nèi)獲得 SEM 圖像和元素分析結(jié)果。簡單、易操作的飛納電鏡是材料科學(xué)者的理想選擇，不同研究背景的人員都能獲得想要的測試結(jié)果。