2019年10月11日-12日，第二屆質譜儀器研發論壇在江蘇昆山舉辦，此次會議由中國儀器儀表學會分析儀器分會質譜儀器學術組主辦，昆山禾信質譜技術有限公司承辦，國內質譜研發領域資深專家齊聚一堂，共同討論質譜核心技術的創新開發及應用問題。
   
濱松攜多款最新的質譜探測用關鍵器件，參加了本次會議。并在會議中發表了《質譜探測新技術，為質譜儀研發帶來更多可能》的報告，介紹了濱松40余年在質譜探測技術上的努力，針對質譜儀器的研發，可提供全套的探測方案，產品覆蓋微通道板（MCP）、電子倍增器（EM）以及VUV離子化光源、無需基質的輔助離子化基板等，可應用于TOF-MS、Q-MS、IT-MS等質譜儀之中。報告中，濱松中國工程師也重點展示了近年來陸續發布的四款最新產品：高氣壓下（達1Pa）仍可高增益正常工作的柵網陽極結構MCP、大幅縮短TOF-MS（MALDI）前處理時間的無基質輔助電離基板（DIUTHAME）、復合雪崩二極管結構的MCP、陶瓷通道式電子倍增器（CEM）。從發布到此一年多的時間內，通過實際應用中的驗證，新品也得到了進一步的打磨，一系列詳細的使用數據，在此次的報告中也首次于國內呈現。
   
濱松于中國擁有全資子公司，即濱松光子學商貿（中國）有限公司。濱松中國擁有一只獨立的本土團隊，可快速應想要客戶的需求，提供技術支持和產品定制化服務。針對質譜應用，濱松中國亦配備了包括市場、銷售、產品技術人員在內的獨立項目組，專人負責，以促進濱松的技術最大程度地支持于客戶的儀器研發。