飛納電鏡新品發布，帶你走進掃描電鏡AI智能時代

瀏覽次數：2889　發布日期：2024-6-24　來源：本站　本站原創，轉載請注明出處

“隨著科技的飛速發展，電子顯微技術已成為科研和工業領域不可或缺的重要工具。多年來，飛納不斷推出具有創新性和競爭力的產品，贏得了全球用戶的廣泛贊譽。飛納電鏡始終秉持創新精神，不斷突破技術壁壘，為全球用戶帶來更加先進、高效的產品。”

一直被模仿，從未被超越！飛納電鏡煥新賦能中國科研，自從臺式場發射問世，備受好評，目前臺式場發射又有新突破，飛納臺式場發射掃描透射一體機——Pharos STEM，掃透模式下分辨率突破 1nm，為臺式掃描電鏡解鎖更多應用！

今日我們榮幸地宣布，飛納臺式掃描電鏡技術再次實現重大突破，將引領掃描電鏡行業進入全新的 AI 智能時代！掃描電鏡，不止是一臺電鏡！

飛納電鏡，不止是掃描電鏡！
一起來解鎖飛納電鏡新技術！

Part.1 Phenom MAPS 系統
“人如其名”，MAPS 是地圖的意思，該系統會像百度地圖一樣，通過層級的方式，實現對樣品的拍攝與數據回看。Phenom MAPS 提供的是一個涵蓋所有樣品信息的數碼存檔，從全面（宏觀）到具體（微觀）無所不包，徹底變革了傳統掃描電鏡的分析與數據存儲模式。并且，多圖層數據可以包含能譜。

這里是一個地質樣品的能譜拼圖結果，Phenom MAPS 可以實現對整個樣品的能譜采集，導出任意拼接的原始能譜數據，以方便進行離線分析。

Part.2 ChemiSEM 技術
一鍵點擊，掃描電鏡也有“彩色照”啦！
在 SEM 成像同時也可以實時收集 EDS 能譜信號，無需反復切換成像和分析模式，可以快速獲取樣品的成分信息。

Phase Mapping 技術相分布更直觀

在使用能譜檢測樣品的同時，可顯示出不同相在樣品中的分布情況，使得物相分布直觀可見，同時具有相歸類，計算相比例等功能，非常適用于合金、陶瓷、礦物分析等領域的測試分析。

即使沒有豐富的經驗，也能定位微量和痕量元素。完整全面的分析，明確無誤地識別主要和次要組分，直至單個像素級別。在峰重疊導致重要元素模糊不清的情況下，定位獨特的組分。只需極少量的 X 射線數據即可開始相態判斷。即使是復雜的相圖，也能在不到一分鐘內完成。

Phase Mapping 自動給出相分布結果

Part.3 Avizo Trueput 軟件
為您的電池質量保駕護航！

專門為電池質控而研發的，為您帶來自動化的電池質量控制和檢測的創新型解決方案。開發此軟件時充分考慮到生產車間的需求，Avizo Trueput 軟件可以幫助您縮短 QA/QC 檢測時間，而且操作非常簡單: 使用飛納電鏡獲取圖像后，選擇用于自動檢測的分析方式，一鍵自動生成您的檢測報告，使您可以在生產現場輕松獲取可重復的結果。

Part.4 CISA，關聯一切可視化圖片
光鏡、拉曼、紅外、XPS，甚至 CAD 或手繪草圖，通通可以關聯。下圖案例：通過 MAPS CISA，將 SEM 和 XPS 面分布以及全譜分析的功能相結合，分析多孔砂粒子的表面組成和形貌。

通過結合 XPS 和 SEM 的分析，可以精確地將化學信息與顯微鏡提供的高分辨率結構信息融合。CISA 關聯工作流程尤其適用于研究電池、高分子材料、催化劑和金屬等樣品的材料研究。

新品發布會直播預告
飛納電鏡將在第十屆電子顯微學網絡會議，重磅發布新產品以及應用案例！

“第十屆電子顯微學網絡會議（iCEM 2024）”結合目前電子顯微學主要儀器技術及應用熱點，邀請業界知名電子顯微學專家、電子顯微學儀器技術專家、電子顯微學應用專家等，重點邀請近來有重要工作成果進展的優秀青年學者代表線上分享精彩報告。