國產(chǎn)納米孔基因測序平臺的應(yīng)用探索——細菌耐藥檢測

會議背景：

如今，細菌耐藥問題如此嚴重，很大程度上是由于耐藥基因在不同細菌中的水平傳播導(dǎo)致，而質(zhì)粒、轉(zhuǎn)座子和插入序列等遺傳結(jié)構(gòu)是參與耐藥基因水平轉(zhuǎn)移的關(guān)鍵因子，了解這些關(guān)鍵多重耐藥區(qū)的基因結(jié)構(gòu)是理解耐藥基因進化與傳播的基礎(chǔ)。
 
由于耐藥菌基因組的多重耐藥區(qū)結(jié)構(gòu)復(fù)雜，而傳統(tǒng)測序技術(shù)受限于讀長短，無法跨越關(guān)鍵的多重耐藥區(qū)，很難獲得耐藥菌中多重耐藥質(zhì)粒或者染色體的精細圖譜。
 
因此，利用納米孔基因測序技術(shù)長讀長優(yōu)勢，探索病原菌的全基因組序列對微生物基因組學(xué)的研究具有重要意義。
 
5月17日，我們邀請揚州大學(xué)李瑞超博士和齊碳科技資深應(yīng)用專家杜鵬程博士，為大家?guī)�來齊碳納米孔基因測序平臺在耐藥菌檢測中的應(yīng)用及納米孔基因測序在耐藥菌快速檢測和基因組學(xué)研究新機遇的探討與分享。
 
會議詳情：