2019年10月11日-12日，第二屆質(zhì)譜儀器研發(fā)論壇在江蘇昆山舉辦，此次會(huì)議由中國(guó)儀器儀表學(xué)會(huì)分析儀器分會(huì)質(zhì)譜儀器學(xué)術(shù)組主辦，昆山禾信質(zhì)譜技術(shù)有限公司承辦，國(guó)內(nèi)質(zhì)譜研發(fā)領(lǐng)域資深專家齊聚一堂，共同討論質(zhì)譜核心技術(shù)的創(chuàng)新開發(fā)及應(yīng)用問題。
   
濱松攜多款最新的質(zhì)譜探測(cè)用關(guān)鍵器件，參加了本次會(huì)議。并在會(huì)議中發(fā)表了《質(zhì)譜探測(cè)新技術(shù)，為質(zhì)譜儀研發(fā)帶來(lái)更多可能》的報(bào)告，介紹了濱松40余年在質(zhì)譜探測(cè)技術(shù)上的努力，針對(duì)質(zhì)譜儀器的研發(fā)，可提供全套的探測(cè)方案，產(chǎn)品覆蓋微通道板（MCP）、電子倍增器（EM）以及VUV離子化光源、無(wú)需基質(zhì)的輔助離子化基板等，可應(yīng)用于TOF-MS、Q-MS、IT-MS等質(zhì)譜儀之中。報(bào)告中，濱松中國(guó)工程師也重點(diǎn)展示了近年來(lái)陸續(xù)發(fā)布的四款最新產(chǎn)品：高氣壓下（達(dá)1Pa）仍可高增益正常工作的柵網(wǎng)陽(yáng)極結(jié)構(gòu)MCP、大幅縮短TOF-MS（MALDI）前處理時(shí)間的無(wú)基質(zhì)輔助電離基板（DIUTHAME）、復(fù)合雪崩二極管結(jié)構(gòu)的MCP、陶瓷通道式電子倍增器（CEM）。從發(fā)布到此一年多的時(shí)間內(nèi)，通過實(shí)際應(yīng)用中的驗(yàn)證，新品也得到了進(jìn)一步的打磨，一系列詳細(xì)的使用數(shù)據(jù)，在此次的報(bào)告中也首次于國(guó)內(nèi)呈現(xiàn)。
   
濱松于中國(guó)擁有全資子公司，即濱松光子學(xué)商貿(mào)（中國(guó)）有限公司。濱松中國(guó)擁有一只獨(dú)立的本土團(tuán)隊(duì)，可快速應(yīng)想要客戶的需求，提供技術(shù)支持和產(chǎn)品定制化服務(wù)。針對(duì)質(zhì)譜應(yīng)用，濱松中國(guó)亦配備了包括市場(chǎng)、銷售、產(chǎn)品技術(shù)人員在內(nèi)的獨(dú)立項(xiàng)目組，專人負(fù)責(zé)，以促進(jìn)濱松的技術(shù)最大程度地支持于客戶的儀器研發(fā)。