據(jù)美國(guó)R&D Magazine最新消息，由上海澤泉科技有限公司代理的美國(guó)Phenotype Screening公司植物根系X-光掃描分析系統(tǒng)ROOTVIS FS榮獲美國(guó)R&D100大獎(jiǎng)殊榮.

美國(guó)Phenotype Screening公司的植物根系X-光掃描分析系統(tǒng)是在美國(guó)能源部創(chuàng)新項(xiàng)目資助下研發(fā)成功的一套新型、高效率、高精度、非破壞性的測(cè)量系統(tǒng)，用于對(duì)盆栽植物的根系進(jìn)行原位成像分析，可以拍攝根系的立體X-光照片。

詳見： http://www.rdmag.com/awards.aspx?CommonCount=0

這套系統(tǒng)是植物根系研究領(lǐng)域繼根視（rhizotron）系統(tǒng)（如加拿大Regent WinRHIZO根系分析系統(tǒng)）后最激動(dòng)人心的發(fā)明。根視系統(tǒng)需要將根取出清洗后，借助掃描儀進(jìn)行分析，這個(gè)過程往往會(huì)折斷植物的根尖等脆弱部分，而且屬于離體分析，不能進(jìn)行動(dòng)態(tài)監(jiān)測(cè)。而植物根系X-光掃描分析系統(tǒng)是非破壞性的原位分析系統(tǒng)，可以全方位分析植物根系所有部分（包括根尖等），并且可以在植物生長(zhǎng)的不同階段對(duì)根系的生長(zhǎng)進(jìn)行長(zhǎng)期動(dòng)態(tài)監(jiān)測(cè)。這套系統(tǒng)非常適合于研究植物根系對(duì)脅迫的動(dòng)態(tài)響應(yīng)。



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