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3475 次 斜投影顯微圖像分析法測量片狀顆粒厚度的研究 2013-8-8
斜投影顯微圖像分析法測量片狀顆粒厚度的研究竇彥玲，任中京，江海鷹(濟南大學顆粒測試研究所，山東濟南 250022)摘要：與傳統正投影顯微圖像分析方法不同，本文應用斜投影法，通過變換觀測顆粒
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